Alternance Caractérisation et modélisation de matériaux par radiographie X – H/F
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Secteur :
region : Bourgogne-Franche-Comté | Département : 21
ville : IS SUR TILLE
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Date de début du contrat :
2026-09-01
2026-09-01
Durée du contrat :
12 ou 24 mois
12 ou 24 mois
Descriptif de la mission :
1) Présentation brève de l’entreprise et de son secteur d’activité
L’unité d’accueil développe des solutions avancées de caractérisation pour des matériaux utilisés dans des cibles de petite taille à fortes contraintes dimensionnelles. Le sujet s’inscrit dans un contexte de mesures non destructives de haute précision, avec enjeux de qualification métrologique et d’industrialisation des méthodes.
2) Missions proposées
Contribuer au développement d’un dispositif de mesure d’épaisseur optique sans contact.
Adapter les procédures d’acquisition à des matériaux de géométries complexes et de natures variées.
Participer à la validation métrologique des instruments : analyse critique des mesures, intercomparaison, procédures d’étalonnage.
Déterminer les incertitudes de mesure et préparer l’intégration des équipements dans la base ESM de l’unité.
Participer au développement d’instruments de caractérisation et à l’exploitation d’équipements de pointe (microscope interférométrique, confocal, fluorescence X).
Contribuer au volet programmation/automatisation sous LabVIEW.
1) Présentation brève de l’entreprise et de son secteur d’activité
L’unité d’accueil développe des solutions avancées de caractérisation pour des matériaux utilisés dans des cibles de petite taille à fortes contraintes dimensionnelles. Le sujet s’inscrit dans un contexte de mesures non destructives de haute précision, avec enjeux de qualification métrologique et d’industrialisation des méthodes.
2) Missions proposées
Contribuer au développement d’un dispositif de mesure d’épaisseur optique sans contact.
Adapter les procédures d’acquisition à des matériaux de géométries complexes et de natures variées.
Participer à la validation métrologique des instruments : analyse critique des mesures, intercomparaison, procédures d’étalonnage.
Déterminer les incertitudes de mesure et préparer l’intégration des équipements dans la base ESM de l’unité.
Participer au développement d’instruments de caractérisation et à l’exploitation d’équipements de pointe (microscope interférométrique, confocal, fluorescence X).
Contribuer au volet programmation/automatisation sous LabVIEW.
Profil recherché :
Compétences demandées et qualités requises
Maîtrise technique des moyens de caractérisation.
Démarche qualité, plan d’expérience et gestion de projet.
Rigueur métrologique : étalonnage, intercomparaison, incertitudes.
Autonomie, initiative et force de proposition.
Travail en équipe pluridisciplinaire et communication technique.
Appétence pour la programmation instrumentale (LabVIEW).
Compétences demandées et qualités requises
Maîtrise technique des moyens de caractérisation.
Démarche qualité, plan d’expérience et gestion de projet.
Rigueur métrologique : étalonnage, intercomparaison, incertitudes.
Autonomie, initiative et force de proposition.
Travail en équipe pluridisciplinaire et communication technique.
Appétence pour la programmation instrumentale (LabVIEW).
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